Die Ermittlung des mittleren Ausfallabstands (Mean Time Between Failures - MBTF) eines Halbleiterrelais ist ein kompliziertes Unterfangen. Anders als bei üblichen elektromechanischen Relais wirken sich in einer bestimmten Anwendung mehrere Faktoren auf die Lebenserwartung eines Halbleiterrelais aus. Diese Faktoren hängen hauptsächlich von den elektrischen Daten der Anwendung ab, wie z.B. von der Laststromstärke, dem Lastzyklus, der Umgebungstemperatur im Schaltschrank, auftretenden Stromspitzen etc. Zudem wirken sich auch mechanische Faktoren auf die Lebensdauer des Relais aus, dazu gehören z.B. die Befestigungsart, der verfügbare Luftstrom und die thermische Verbindung zwischen Relais und Schaltschrank/Hitzesenke.
Aus diesem Grund gibt Crydom keine "festen" MTBF-Daten an. Stattdessen liefern wir für den mittlerern Ausfallabstand eine geschätzte Bandbreite an Kenndaten, die sich auf Erfahrungswerte aus der Vergangenheit stützen. Das bedeutet, wir berechnen den mittleren Ausfallabstand (MTBF), indem wir die gesamten kumulierten Betriebsstunden der letzten zwei Jahre durch die Anzahl an Rücksendungen dividieren, die wir in diesem Zeitraum von den Anwendern erhalten haben (Halbleiterrelais, die durch unsachgemäßen Einsatz beschädigt wurden, werden in der Kalkulation nicht berücksichtigt). Bei der Berechnung der "Betriebsstunden" wird einfach die Anzahl der im festgelegten Zeitraum versendeten Produkte ermittelt; als Annahme gilt, dass die Geräte acht Stunden am Tag über eine Arbeitswoche von fünf Tagen im Betrieb waren. Um eine angemessene Fehlergrenze einzuhalten, gehen wir davon aus, dass nur 10% aller Ausfälle von den Anwendern an uns zur Analyse zurückgesendet werden; dementsprechend werden die Ergebnisse angeglic hen.
Das Endergebnis ist ein mittlerer Ausfallabstand zwischen 2 und 40 Millionen Stunden, je nach Produktfamilie. Aus Vereinfachungsgründen geben wir aber bekannt, dass unsere Halbleiterrelais einen mittleren Ausfallabstand von >2 Millionen Stunden besitzen, mit einer Qualitätsgrenzlage von ca. 10 ppm